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全自动/半自动探针台对6"、8"的晶圆级各类器件的性能测试,可针对不同晶圆测试,可配备相应的仪器仪表,进行I-V、C-V、光信号等特性分析,设备功能丰富,可匹配多种测试应用环境,可升级大功率晶圆测试、射频测试、全自动测试并可加载温控系统,满足客户在高低温环境下的各种晶圆器件性能测试需求。
全自动探针台系列
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全自动/半自动探针台对6"、8"的晶圆级各类器件的性能测试,可针对不同晶圆测试,可配备相应的仪器仪表,进行I-V、C-V、光信号等特性分析,设备功能丰富,可匹配多种测试应用环境,可升级大功率晶圆测试、射频测试、全自动测试并可加载温控系统,满足客户在高低温环境下的各种晶圆器件性能测试需求。
半自动探针台系列